Etuves Memmert (classiques, sous vide VO400, humidité contrôlée HPP260), Fours haute température de cuisson et frittage, Nabertherm LC084H60N8 (1600°C), Pyrox tubulaire (1250°C)
Micrograveuse numérique Roland EGX350, Tronçonneuse de précision Buehler IsoMet High Speed, Machines-outils : tour parallèle Précis, Perceuse à colonne Sydéric, Fraiseuse Dufour
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Le laboratoire LGEF possède plusieurs techniques de caractérisation microstructurale :
Diffractomètre de rayons X : X’Pert Pro MPD Panalytical, tube Cuivre, configuration Bragg Brentano, monochromateur Kα1, porte-échantillons plat, spinner et chambre température Antoon Paar HTK16
Ensemble d’analyse thermique ligne 96 Setaram. Tête HF-DSC / 20-1400°C (+ adaptation pour mesures électro-caloriques) -Tête TMA / 20-1600°C - Tête ATD-TG ou TG, Analyseur thermique DSC 131Evo Setaram, gamme températures : -150 – 700°C
Analyseur de conductivité thermique C-Therm TH91-13-00872, capteur H553 (-50°C à 200°C)
Microscope optique Olympusn Microscope électronique à balayage , FlexSEM 1000 II Hitachi - 0.3 à 20 KV; résolution 4 à 10 nm; grossissement : 16-80000, platine 5 axes, analyse EDS avec détecteur Aztec One Oxford
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Spécialiste du couplage multiphysique, le laboratoire LGEF utilise et développe plusieurs outils de caractérisation sous diverses sollicitations (température, champ électrique ...) :
Banc de mesure élasto-calorique : banc de traction Mitsumi RSDG2, capteur de déplacement laser Micro Epsilon Opto-NCDT-ILD1420-200, caméra thermique OPTRIS PI450i
Analyse mécanique : Machine Shimadzu AGS-X, traction/compression, bi-colonne, force max 10 kN, chambre en température (-80°C-200°C), Platine de traction Newport + contrôleur XPS + capteur de force (10N,250N), course max +/-50mm
Ensembles de spectroscopie diélectrique : Impédancemètre HP4284 A Precision LCR Meter, Keysight E4980AL-102 Precision LCR Meter, Interface diélectrique 1296 / analyseur de réseau 1255 Solartron, Gamme de fréquences : 10 µHz – 20 MHz, DC bias : 40 V – tension max 1 kV avec utilisation ampli trek 1000, contrôleur de température Oxford ITC503 : -120 / 120°C cryostat Oxford Optistat DN, Analyseur ALPHA-AN Novocontrol, gamme de fréquences : 3 µHz - 20 MHz, option DC Bias +/- 40 VDC/70mA, cellule porte-échantillon ZGS Cryosystème Quatro : -160°C / + 400°C
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Polarisation et caractérisation piézoélectrique : Alimentations haute tension continues Spellman60 et 150 ( 2kV-30mA, 10kV-15mA), TECHNIX 40kV, amplificateurs de tension TREK10/10B (10kV-10mA), TREK20/20C (20mA-20kV), TREK 609-D(+/-4kV-20mA), Analyseurs de réseau HP4194A- gamme de fréquences: 100Hz-40MHz, Agilent 5061B-gamme de fréquences: 5Hz-3GHz, Piézomètres APC, Piezotest PM300, Voltmètres de surfaceTrek 820-CE-EX High Impedance Voltmeter, Trek electrostatic voltmeter Model 542